Structure analysis of Ag overlayers on Si(111) by low-energy Li+ ion scattering

M. Aono*, R. Souda, C. Oshima, Y. Ishizawa

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    抄録

    The structures of various Ag overlayers on the Si(111) surface have been analyzed by impact-collision ion scattering spectroscopy (ICISS) using a beam of Li+ ions of ≈ 1 keV. The Ag overlayers include (i) Ag crystallites deposited at room temperature, (ii) Ag atoms at the Si(111)-(√3×√3)Ag surface, (iii) Ag atoms at the Si(111)-(3×1)Ag surface, and (iv) a (111) epitaxial film of Ag with a thickness of ≈ 20 A ̊.

    本文言語English
    ページ(範囲)713-723
    ページ数11
    ジャーナルSurface Science
    168
    1-3
    DOI
    出版ステータスPublished - 1986 3 3

    ASJC Scopus subject areas

    • 物理化学および理論化学
    • 凝縮系物理学
    • 表面および界面

    フィンガープリント

    「Structure analysis of Ag overlayers on Si(111) by low-energy Li<sup>+</sup> ion scattering」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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