メインナビゲーションにスキップ
検索にスキップ
メインコンテンツにスキップ
早稲田大学 ホーム
English
日本語
ホーム
プロファイル
研究部門
研究成果
専門知識、名前、または所属機関で検索
Technology roadmap on SOC testing issues on SOC testing in DSM Era
Takashi Aikyo
研究成果
:
Paper
›
査読
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Technology roadmap on SOC testing issues on SOC testing in DSM Era」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Engineering & Materials Science
Transistors
100%
Design for testability
81%
Dynamic random access storage
67%
Analog circuits
65%
Application specific integrated circuits
62%
Testing
60%
Failure analysis
50%
Productivity
46%
Networks (circuits)
32%
Costs
22%