Timing-aware ATPG for high quality at-speed testing of small delay defects

Xijiang Lin*, Kun Han Tsai, Chen Wang, Mark Kassab, Janusz Rajski, Takeo Kobayashi, Randy Klingenberg, Yasuo Sato, Shuji Hamada, Takashi Aikyo

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

125 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Timing-aware ATPG for high quality at-speed testing of small delay defects」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science