Total Dose Dependence of Soft-Error Hardness in 64kbit SRAMs Evaluated by Single-Ion Microprobe Technique

T. Matsukawa, A. Kishida, T. Tanii, M. Koh, K. Horita, K. Hara, B. Shigeta, M. Goto, I. Ohdomari, S. Matsuda, S. Kuboyama

研究成果: Article査読

26 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Total Dose Dependence of Soft-Error Hardness in 64kbit SRAMs Evaluated by Single-Ion Microprobe Technique」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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