Transmission electron microscope study of II-VI/III-V semiconductor interfaces

N. Otsuka, D. Li, J. M. Gonsalves, C. Choi, M. Kobayashi, L. A. Kolodziejski, R. L. Gunshor

研究成果: Article査読

6 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Transmission electron microscope study of II-VI/III-V semiconductor interfaces」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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