VIB-6 Hall Effect Analysis of Charge Transport in Silicon Dioxide-Silicon Nitride Double Layers

A. Hiraiwa, J. Yugami, S. Ihjima, T. Kusaka, Y. Ohji

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)2386
ページ数1
ジャーナルIEEE Transactions on Electron Devices
34
11
DOI
出版ステータスPublished - 1987
外部発表はい

ASJC Scopus subject areas

  • Electrical and Electronic Engineering
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials

引用スタイル