Worst-case analysis to obtain stable read/write DC margin of high density 6T-SRAM-array with local Vth variability

Yasumasa Tsukamoto*, Koji Nii, Susumu Imaoka, Yuji Oda, Shigeki Ohbayashi, Tomoaki Yoshizawa, Hiroshi Makino, Koichiro Ishibashi, Hirofumi Shinohara

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

48 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Worst-case analysis to obtain stable read/write DC margin of high density 6T-SRAM-array with local Vth variability」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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